（通讯员：张国庆，编辑：陈婉兰）近日，动力与机械学院院长、工业科学研究院执行院长刘胜教授团队申请的2项超快显微成像方法的中国发明专利获得授权。发明的多模超快成像方法是刘胜教授主持的国家重大科研仪器研制项目“薄膜生长缺陷跨时空尺度原位/实时监测与调控实验装置”的关键模块之一，应用于薄膜生长过程中薄膜表面信息（表面形貌及等离子体/电子密度）跨时间尺度的测量。

在对瞬变现象的观测过程中，如光化学，声子学，等离子物理以及研究活细胞蛋白质等快速动态特性时，通常需要在某些关键的时刻点对观测对象进行飞秒尺度上的超高速检测。然而，目前的连续成像技术，在时间分辨率上只能达到纳秒水平，虽然能够对超快现象的全过程进行比较完整的记录，但是在对关键时刻点进行超高速检测方面还稍显不足。此外，超快现象通常在微观尺度上发生，在此尺度上，很多的观测对象，如细胞、薄膜等都呈现出比较高的透光性。而常用的成像技术通常只对探测光的强度（即光波振幅）进行检测，对观测对象的不同成分以及厚度等参数的辨识能力较弱。

刘胜教授、雷诚教授（工业科学研究院引进人才）等为了在微纳尺度上对瞬变现象进行高速、完整且多参数的测量，针对目前成像技术在上述方面的不足，分别提出一种连续/突发双模和连续/突发/相差三模超快显微成像方法。该方法既能对观测对象的动态特性在纳秒尺度上进行连续的检测，还能在超快过程的关键时刻点实现飞秒尺度的超快图像捕获。同时，通过引入定量相位检测技术，实现了对探测光的全信息探测，极大的丰富了检测结果中的信息量。这两项专利克服了传统成像技术刷新频率及机械扫描速率的限制，同时避免了大功率光源带来的光噪声及样品损伤，在包括薄膜检测在内的诸多领域中都有很好的应用前景。

专利发明人还包括李辉教授、张国庆博士、硕士生孙启盟等。

附：专利授权通知书

一种用于实时观测微纳瞬变现象的连续/突发双模超快成像方法

一种用于实时观测微纳瞬变现象的连续/突发/相差三模超快显微成像方法